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钢研纳克:我司氧氮氢气体分析仪可测定碳化硅中氧的含量,ICP光谱仪、ICP质谱仪可用于碳化硅材料中杂质元素的测定,扫描电镜可应用于半导体材料组织结构的检测

来源:同花顺    时间:2023-08-22 15:59:46


(资料图片仅供参考)

同花顺(300033)金融研究中心8月22日讯,有投资者向钢研纳克(300797)提问, 公司的仪器能用于碳化硅纤维和碳化硅复合材料(CMC)的检测吗?

公司回答表示,投资者您好,我司氧氮氢气体分析仪可测定碳化硅中氧的含量,ICP光谱仪、ICP质谱仪可用于碳化硅材料中杂质元素的测定,扫描电镜可应用于半导体材料组织结构的检测。谢谢关注!

(责任编辑:宋政 HN002)

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